菲希爾X射線測厚儀XDV-SDD

菲希爾X射線鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD核心硬件配置

1. 探測核心（整機優(yōu)勢）

50mm2 大面積 SDD 硅漂移探測器，半導體制冷，Mn-Kα 分辨率≤140eV，低能元素靈敏度拉滿，可直接測空氣中 Al、P，超薄鍍層檢出極限達 2nm 金層

自研DPP + 數(shù)字脈沖處理器：超高計數(shù)率，同等精度下測量時長縮短 50%，批量檢測效率大幅提升，重復性更穩(wěn)定

2. X 射線激發(fā)系統(tǒng)

鎢靶微聚焦 X 射線管，三檔高壓 10/30/50kV 自動切換

4 檔電動切換準直器：最小光斑 φ0.25mm，最大 3mm 大光斑（大面積樣品提速）

6 組自動切換濾光片，針對鎳磷、貴金屬、多層鍍層優(yōu)化激發(fā)條件

3. 自動測量平臺

可編程高精度 XY 電動工作臺，定位精度＜5μm，支持矩陣批量自動掃描

電動 Z 軸升降，測量距離 0–80mm，DCM 距離補償，高低異形工件無需反復校準

樣品最大容納高度 140mm，兼容大尺寸、異形五金、PCB、晶圓

高清彩色 CCD 顯微鏡頭 + 1 級安全激光定位，十字標線可視化定點測量

4. 基礎參數(shù)

可測元素：Al (13) ~ U (92)，最多同步分析 24 種元素

成分檢出下限：低至 ppm 級，塑料中 Pb 檢出≈2ppm，滿足 RoHS 嚴苛限值

整機重量：45kg，全封閉輻射防護倉，開蓋自動斷 X 光

配套軟件：WinFTM® 專業(yè)分析軟件，鍍層厚度、元素含量、圖譜、報表一體化輸出