FMP30氧化膜測厚儀

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經(jīng)濟(jì)耐用的ISOSCPOPE FMP30膜厚儀是一款擁有獨(dú)立的電渦流儀器，適合于需求配置儲存測量數(shù)據(jù)，輸出和打印功能的使用者。ISOSCOPE MP30能記憶多達(dá)一百個(gè)應(yīng)用程式中四千個(gè)數(shù)據(jù)組中的兩萬個(gè)測量數(shù)據(jù)。 ISOSCPOPE FMP30膜厚儀擁有有一個(gè)方便讀取的60 x 30 mm （2.4" x 1.2"）液晶顯示器，能夠顯示大量信息，使得使用者操作非常的方便，能夠單個(gè)測量讀數(shù)，次數(shù)測量統(tǒng)計(jì)，應(yīng)用方程式，組別，數(shù)字統(tǒng)計(jì)，Cp和 Cpk，超出限制的產(chǎn)品規(guī)格，時(shí)間和日期，以及顯示操作模式和設(shè)置的*的符號和圖標(biāo)，2行文字擁有16個(gè)字母還可以自己添加符號來顯示數(shù)字和操作員提示。 ISOSCPOPE FMP30膜厚儀能夠打印柱狀圖，分布顯示圖表，以及Cp和 Cpk指標(biāo)的功能。

IsoScope FMP30測厚儀專業(yè)認(rèn)證
+用于測量非鐵磁金屬基材上的油漆，清漆或塑料涂層，鋁上陽極涂層和非導(dǎo)電載體材料上的導(dǎo)電涂層。 （使用根據(jù)ISO 2360的渦流法測量，ASTM D7091）

電渦流測量原理：

高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測厚儀一樣，渦流測厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

  采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可測量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測量較為合適。

測量策略和評估
•根據(jù)IMO PSPC，SSPC-PA2，QUALANOD和QUALICOAT存儲的測量規(guī)格
•能夠?qū)ο嚓P(guān)多點(diǎn)測量啟用矩陣測量模式
•測量數(shù)據(jù)的平均值：僅存儲幾個(gè)讀數(shù)的平均值
•通過面積測量進(jìn)行測量采集：捕獲單個(gè)讀數(shù)，直到探頭剝離并平均
•用于自動消除錯(cuò)誤測量的異常值抑制設(shè)置
•自由運(yùn)行顯示，附加顯示讀數(shù)作為容差極限之間的模擬量
•統(tǒng)計(jì)顯示塊中zui重要的值和zui終結(jié)果。 方差分析值的輸出
•圖形測量顯示為直方圖
•輸入過程容限限制和相關(guān)過程能力指標(biāo)cp和cpk的計(jì)算能力