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更新時間：2025-04-26 
瀏覽次數：782性能與設計
高性能、緊湊型臺式儀器，采用能量色散型X射線熒光技術（EDXRF），支持無損測量細小工件上的鍍層厚度和材料成分分析。
配備比例接收器，實現高計數率（>100 kcps），確保高精度測量和長期穩(wěn)定性，顯著減少校準頻率。
符合DIN ISO 3497、ASTM B 568標準，并通過德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"輻射安全認證。
核心技術
基本參數法（FP法）：無需依賴校準標準片，可直接分析固體、液體樣品及復雜鍍層系統（如單層、雙層、三層鍍層，合金鍍層等）。
元素檢測范圍：覆蓋氯（Cl, 17）至鈾（U, 92），最多可同時測定24種元素，適用于Cr、Ni、Cu等傳統電鍍層及合金成分分析。
測量方向與定位：X射線源及探測器位于下腔，測量方向自下而上，樣品通過透明窗口支撐，便于大尺寸樣品（如印制電路板）快速定位。
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